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* 內容：	該法是通過檢測IC電源進線的總電流，來判斷IC好壞的一種方法。由于IC內部絕大多數為直接耦合，IC損壞時(如某一個PN結擊穿或開路)會引起后級飽和與截止，使總電流發生變化。所以通過測量總電流的方法可以判斷IC的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計算出總電流值。